Principaux Equipements

Cross section polisher

Cross section polisher

Polisseur ionique de section transverse (faisceau d’argon) pour la préparation d'échantillons pour le MEB. Permet le polissage de nombreux matériaux (cuivre, aluminium, céramiques, verres) en préservant les structures et sans artefacts de polissage. Dimensions maximales 11 mm x 10 mm x 2 mm

Dilatomètre de trempe - Adamel Lomarghy DT1000

Dilatomètre de trempe pour la détermination des diagramme TRC. -100°C-1200°C, vitesse de refroidissement 100°C/s/

Microscope Électronique à Balayage conventionnel JEOL JSM6400

Microscope Électronique à Balayage conventionnel JEOL JSM6400

Microscope Électronique à Balayage conventionnel JEOL JSM6400

Microscope électronique à balayage JEOL 7001F LV avec EDS et EBDS khl

Microscope électronique à balayage JEOL 7001F LV avec EDS et EBDS khl

Détecteurs SE, BSE, EDS (SSD Oxford Instrument cartographie X), EBSD (hkl) avec 4 détecteurs BSE couplage EDS, mode Low Vaccum 10-50 Pa, Platine Eucentrique 5 axes, grande chambre, platine de traction/flexion 5kN à chaud 800°C avec échantillon tilté à 70° (EBSD), lociciel d'acquisition image stéréo MEX.

Microscope Electronique à Balayage JEOL – JSM 5510 LV

Microscope Electronique à Balayage JEOL – JSM 5510 LV

Détecteur d’électrons secondaires et rétrodiffusés, et prochainement, de rayonnement X pour analyse EDS. Mode High Vac : détecteur secondaire (SEI) et détecteur rétrodiffusés (BEI). - Mode Low Vac : détecteur rétrodiffusés (BEI) - Grandissement 18x à 100000x. - Platine gogniomètrique & eucentrique : X80mm, Y40mm, rotation sans fin, inclinaison de -10 à 90°. - Distance de travail Z de 5 à 48mm. - Filament de tungstène pré-centré. - Chargement objet d'un diamètre allant jusqu'à 152mm.

Outils de préparation et d’observation d’échantillons matérialographiques

Outils de préparation et d’observation d’échantillons matérialographiques

Tronçonnage abrasif sous eau, découpe par fil, enrobage à froid et à chaud, polissage manuel et automatique, polissage électrolytique, microscopes optiques