Principaux Equipements

Bras de mesure ROMER AbsoluteArm

Bras de mesure ROMER AbsoluteArm

Système de mesure portable avec une plage de mesure de 2400mm

Bras équipé d'un capteur à nappe laser et de palpeurs à bille de 3mm, 6mm et 15mm

Système associé au logiciel PolyworksV11 permettant l'export en format CAO standard

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Dispositif de controle de forme MAHR – MMQ 400

Dispositif de controle de forme MAHR – MMQ 400

Mesure des défauts de formes (circularité, cylindricité, rectitude …). Centrage et nivelage des pièces assistés par logiciel. Machine pilotée en CN. Charge centrée maximum 60kg.

Laser interférométrique Renishaw ML10

Laser interférométrique Renishaw ML10

Laser interférométrique monofréquence (632nm) corrigé en température (pièce et

ambiance), en pression atmosphérique et en hygrométrie pour le contrôle de déplacement

avec des incertitudes de l’ordre de 0.7ppm.

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Machine à Mesurer Tridimensionnelle (MMT) Mitutoyo BHN506

Machine à Mesurer Tridimensionnelle (MMT) Mitutoyo BHN506

Volume utile : 20" x 24" x 12"

Resolution : 0.00036"

Masse maximale des pièces : 550 lbs

Palpeur Renishaw Star

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Machine à Mesurer Tridimensionnelle (MMT) Trimesure

Machine à Mesurer Tridimensionnelle (MMT) Trimesure

Mesure de macrogéométrie

Volume de mesure en mm3  : 300x 400x700

Capteur à contact de type Renishaw Résolution latérale :  1μm Résolution verticale : 1μm Force du palpeur : 0,4 N  

Applications : Mesures dimensionnelles en 3D.

Machine à Mesurer Tridimensionnelle (MMT) Trimesure

Machine à Mesurer Tridimensionnelle (MMT) Trimesure

Machine Trimesure MEGA 15.07.06

Volume utile : 1500mm x 700mm x 600mm

Résolution 0.2 µm

Logiciel QUINDOS 7 toutes options

Tête orientable indexée PH10

Palpeurs à déclanchement RENISHAW TP2 et TP6

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Microscope à force atomique (AFM) Dimension Edge (Bruker)

Microscope à force atomique (AFM) Dimension Edge (Bruker)

Microscope à force atomique proposant les modes suivants : 

  • Contact Mode and Mode Tapping
  • Force Modulation Mode
  • Force spectroscopy mode
  • SThM mode
  • NanoTA mode
Microscope interférométrique en lumière blanche VEECO NT3300

Microscope interférométrique en lumière blanche VEECO NT3300

Interféromètre en lumière blanche permettant de mesurer le profil d'une surface réfléchissante avec une résolution verticale de l'ordre de quelques nanomètres. Permet par exemple de numériser les microgrilles gravées par le système de photolithographie (testées avec la petite machine de traction, comme sur la photo) ou de mesurer des états de surfaces de pièces usinées.

 

(Equipement commun à la plateforme "Mesures de champs")

Profilomètre 2D et 3D HOMMEL Somicronic

Profilomètre 2D et 3D HOMMEL Somicronic

Caractérisation des paramètres d’états de surface. Capteur tactile inductif à pointe diamant de 6mm de plage verticale.

Profilomètre optique interférométrique VEECO Wyko NT9300

Profilomètre optique interférométrique VEECO Wyko NT9300

Volume utile : 200mm x 200mm x 100mm

Mesure élémentaire de 640 x 480 pixels

Etendue supérieure par technique de stitching

Resolution verticale maxi : 3 Angström

Masse maximale : 10 kg

 

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Profilomètre Surfascan 3D

Profilomètre Surfascan 3D

Mesure Microgéométrique 3D

Masse maximale échantillon : 30 kg Encombrement maximal pièces : 200x 200 x 90 mm3                           

Capteur à Contact: Volume de mesure en mm3 : 100x100x4 Résolution latérale :  4, 4 μm Résolution verticale  : 4 nm Force du palpeur : 10 mN

Capteur sans Contact, crayon confocal: Volume de mesure en mm3 : 100x100x0,3 Résolution latérale :  4, 4 μm Résolution verticale  :  4 nm

 Applications : Mesure et caractérisation de topographies. Analyses géométriques et caractérisations de zone d’usure. Evaluation des paramètres d’états de surface bidimensionnel et tridimensionnel  suivant les normes Internationales en vigueur.

Profilomètres tactile KLA-Tencor P10 et P16+

Profilomètres tactile KLA-Tencor P10 et P16+

Etendue de mesure : Respectivement 60 x 60 mm² et 200 x 200 mm²

Résolution verticale maximale : 0.1nm

Masse maximale : 2 kg

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